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数据更新时间
2026-05-12
按“EN IEC 61967-8:2023”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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EN IEC 61967-8:2023
集成电路-电磁发射测量方法-第8部分:辐射发射测量- IC带状线法
检测项目：辐射发射测量-IC带状线法
检测对象：集成电路