中国电子科技集团公司第三十四研究所试验与检测中心

技术侦查设备通用技术要求第7部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006

技术侦查设备通用技术要求第7部分：环境适应性要求和试验方法 GJB 1621.7A-2006

环境试验 第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动和导则

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB 150.16A-

军用装备实验室环境试验方法 第16部分：振动试验 GJB 150.16A-

环境试验 第2部分： 试验方法 试验Fc： 振动(正弦)

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第4部分：低温试验 GJB 150.4A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB 150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB 150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB 150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-2009 7.2.1、7.2.2、7.2.3、

军用装备实验室环境试验方法 第18部分：冲击试验 GJB 150.18A-2009 7.2.1、7.2.2、7.2.3、

军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验 GJB 150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 第11部分：盐雾试验 GJB 150.11A-

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压（高度）试验 GJB 150.2A-

军用装备实验室环境试验方法 第2部分：低气压（高度）试验 GJB 150.2A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB 150.5A-

军用装备实验室环境试验方法 第5部分：温度冲击试验 GJB 150.5A-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-

电子产品环境应力筛选方法 GJB 1032A-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB∕T 2423.1-2008 5.2、5.3、

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 GB∕T 2423.1-2008 5.2、5.3、

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB∕T 2423.2-2008 5.2、5.3、

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 GB∕T 2423.2-2008 5.2、5.3、

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab： 恒定湿热试验 GB∕T 2423.3-2016

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab： 恒定湿热试验 GB∕T 2423.3-2016

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db： 交变湿热(12h＋12h循环) GB∕T 2423.4-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db： 交变湿热(12h＋12h循环) GB∕T 2423.4-2008

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击

环境试验 第2部分: 试验方法 试验 Ka: 盐雾

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法 试验M：低气压 4、

环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验

环境试验 第2部分：试验和导则 气候（温度、湿度）和动力学（振动、冲击）综合试验

环境试验 第2部分: 试验方法 试验 N: 温度变化 6、7、8、

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法