数据更新时间
2026-05-12
按“硅”筛选，展示 36 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 25 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
气相二氧化硅 附录H
检测项目：45μm筛余物、振实密度和振实体积、悬浮液pH值、灼烧减量、二氧化硅、三氧化二铝、二氧化钛、三氧化二铁、105℃挥发物、碳含量 等 9 项，点击展开全部
检测对象：气相二氧化硅
工业三氯氢硅
检测项目：二氯二氢硅、三氯氢硅、四氯化硅、铝、磷、铁、铬、铜、锌、硼、镓、铟、总碳(以C计)、氯硅烷聚合物
检测对象：工业三氯氢硅
硅单晶电阻率的测定 直排四探针和直流两探针法
检测项目：电阻率
检测对象：晶体硅
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
检测项目：间隙氧
检测对象：晶体硅
硅中代位碳原子含量红外吸收测量方法
检测项目：代位碳
检测对象：晶体硅
硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
检测项目：少数载流子寿命
检测对象：晶体硅
硅单晶中Ⅲ、Ⅴ族杂质含量的测定 低温傅里叶变换 红外光谱法
检测项目：硼、铝、镓、磷、砷、锑、铟
检测对象：晶体硅
酸浸取-电感耦合等离子质谱仪测定多晶硅表面金属杂质
检测项目：钾，钠，钙，镍，铜，锌，铝，铁，铬，镁
检测对象：晶体硅
硅单晶中碳、氧含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
检测项目：代位碳、间隙氧
检测对象：晶体硅
电子级多晶硅中基体金属杂质含量的测定 电感耦合等离子体质谱法
检测项目：铁、铬、镍、铜、锌、钠
检测对象：晶体硅
光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
检测项目：铁、铬、镍、铜、锌
检测对象：晶体硅
工业硅化学分析方法 第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
检测项目：铁、钙、铝、磷、硼
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第6 部分:碳含量的测定红外吸收法
检测项目：碳含量
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第5部分:杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法
检测项目：镍含量、磷含量、铁含量、钙含量、铝含量
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第9部分:钛含量的测定 二安替吡啉甲烷分光光度法
检测项目：钛含量
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定1,10-二氮杂菲分光光度法
检测项目：铁含量
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定
检测项目：钙含量
检测对象：工业硅
工业硅化学分析方法 第2部分:铝含量的测定 铬天青-S分光光度法
检测项目：铝含量
检测对象：工业硅
检测项目：粒度
检测对象：工业硅
工业循环冷却水和锅炉水中硅的测定
检测项目：全硅
检测对象：工业循环冷却水及锅炉水
气体吸附BET法测定固态物质比表面积（ISO 9227:1995,NEQ)
检测项目：氮吸附比表面积
检测对象：气相二氧化硅
非本征半导体材料导电类型测试方法
检测项目：导电类型
检测对象：晶体硅
炭黑 总表面积和外表面积的测定 氮吸附法
检测项目：氮吸附比表面积
检测对象：气相二氧化硅
GB/T 1480–2025
金属粉末 干筛分法测定粒度
检测项目：粒度
检测对象：工业硅
氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：微量元素含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
检测项目：二氧化硅含量
检测对象：氧化铝