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航天材料及工艺研究所检测与失效分析中心

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数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“分析”筛选,展示 22 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 15 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

GJB 4027A-2006

军用电子元器件破坏性物理分析方法

7 项检测项目

检测项目:外部目检、PIND、内部目检、扫描电镜检查、键合强度、剪切强度、制样镜检

检测对象:电子元器件

外部目检PIND内部目检扫描电镜检查键合强度剪切强度制样镜检
GB/T 3284-2015

石英玻璃化学成分分析方法

2 项检测项目

检测项目:二氧化硅、烧失量

检测对象:无机非金属

二氧化硅烧失量

JY/T 0589.1-2020,JY/T 0589.3-2020,JY/T 0589.4-2020,JY/T 0589.5-2020

热分析方法通则 第1、3、4、5部分

1 项检测项目

检测项目:热分析

检测对象:固体材料

热分析
GB/T 17359-2012

微束分析 能谱法定量分析

1 项检测项目

检测项目:成分分析

检测对象:固体材料

成分分析
GB/T 21782.13-2009

粉末涂料 第13部分 激光衍射法分析粒度

1 项检测项目

检测项目:粒度

检测对象:涂料及涂层

粒度
GB/T 19077-2016

粒度分析 激光衍射法

1 项检测项目

检测项目:粒度

检测对象:涂料及涂层

粒度
GB/T 20975.25-2020

铝及铝合金化学分析方法 第25部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法

1 项检测项目

检测项目:Fe、Cu、Mg、Mn、Ga、Ti、V、Si、Sn、Bi、Ca、Cr、Zn、Ni、Cd、Zr、Be、Pb、B、Sr、Sb

检测对象:金属和金属制品

Fe、Cu、Mg、Mn、Ga、Ti、V、Si、Sn、Bi、Ca、Cr、Zn、Ni、Cd、Zr、Be、Pb、B、Sr、Sb
GJB 3233-1998

半导体集成电路失效分析程序和方法

1 项检测项目

检测项目:半导体集成电路失效分析

检测对象:电子元器件

半导体集成电路失效分析
GJB 3157-1998

半导体分立器件失效分析方法和程序

1 项检测项目

检测项目:半导体分立器件失效分析

检测对象:电子元器件

半导体分立器件失效分析

GB/T 16778-2009

纤维增强塑料结构件失效分析一般程序

1 项检测项目

检测项目:失效分析

检测对象:纤维增强塑料

失效分析
GB/T 6040-2019

红外光谱分析方法通则

1 项检测项目

检测项目:有机结构分析

检测对象:复合材料

有机结构分析
GB/T 6041-2020

质谱分析方法通则

1 项检测项目

检测项目:有机结构分析

检测对象:复合材料

有机结构分析

JY/T 0580-2020

元素分析仪分析方法通则

1 项检测项目

检测项目:有机元素分析

检测对象:复合材料

有机元素分析

GJB 2710-1996

聚合物基复合材料制件失效分析方法

1 项检测项目

检测项目:失效分析

检测对象:复合材料

失效分析

GJB 548B-2005

微电子器件试验方法和程序

1 项检测项目

检测项目:半导体集成电路失效分析

检测对象:电子元器件

半导体集成电路失效分析

机构信息

机构名称

航天材料及工艺研究所检测与失效分析中心

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