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数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 2005,2036
微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 2004.2
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006
工业硅酸钠 GB/T 4209-2022 7.6
电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 209
MJ螺纹紧固件、螺栓试验方法 QJ 1750-1989 2,7
石英玻璃化学成分分析方法 GB/T 3284-2015
钛及钛合金高低倍组织检验方法 GB/T 5168-2020
航天材料及工艺研究所检测与失效分析中心已整理公开能力范围,可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB 128A-1997、GJB 548B-2005、GJB 4027A-2006、GB/T 4209-2022、GJB 360B-2009、QJ 1750-1989 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 金属、非金属及复合材料制品(无损检测)、金属和金属制品、涂料及涂层、电子元器件、复合材料、纤维增强塑料、蜂窝夹层结构、无机非金属 等,具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途,需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告;报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试,或切换到其他分公司查看。