数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005 /方法2009.1
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法1001
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009 方法101
《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 GB/T 4587-1994 第Ⅳ章 第1节10.2
《半导体器件分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管》 GB/T 6571-1995 第Ⅳ章第1节1
《半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管》 GB/T 4023-2015 7.1.2
《电子及电气元件试验方法》 GJB 360B-2009/ 方法106
《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997 方法2017
成都亚光电子股份有限公司检测中心已整理公开能力范围,可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB 548B-2005、GJB 128A-1997、GJB 360B-2009、GB/T 4587-1994、GB/T 6571-1995、GB/T 4023-2015 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件、三极管、二极管 等,具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途,需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告;报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试,或切换到其他分公司查看。