中国电子科技集团公司第四十三研究所混合集成电路及电子元器件检测实验室

环境试验 第2部分：试验方法 试验Ea和导则：冲击

环境试验第2部分:试验方法试验方法和导则:温度/低气压或温度/湿度/低气压综合试验

军用装备实验室环境试验方法第2部分：低气压（高度）试验 GJB150.2A-2009 程序Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ

军用装备实验室环境试验方法第2部分：低气压（高度）试验 GJB150.2A-2009 程序Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ

军用设备环境试验方法低气压（高度）试验 GJB150.2-

军用设备环境试验方法低气压（高度）试验 GJB150.2-

环境试验 第2部分：试验方法 试验Cab：恒定湿热试验

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Db：交变湿热（12h+12h循环）

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB150.9A-

军用装备实验室环境试验方法 第9部分：湿热试验 GJB150.9A-

军用设备环境试验方法湿热试验 GJB150.9-

军用设备环境试验方法湿热试验 GJB150.9-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温

军用装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验 GJB150.4A-

军用装备实验室环境试验方法第4部分：低温试验 GJB150.4A-

军用设备环境试验方法低温试验 GJB150.4-

军用设备环境试验方法低温试验 GJB150.4-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB150.3A-

军用装备实验室环境试验方法 第3部分：高温试验 GJB150.3A-

军用设备环境试验方法高温试验 GJB150.3-

军用设备环境试验方法高温试验 GJB150.3-

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ka：盐雾

军用装备实验室环境试验方法第11部分：盐雾试验 GJB150.11A-

军用装备实验室环境试验方法第11部分：盐雾试验 GJB150.11A-

军用设备环境试验方法盐雾试验 GJB150.11-

军用设备环境试验方法盐雾试验 GJB150.11-

环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化

军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验 GJB150.5A-

军用装备实验室环境试验方法第5部分：温度冲击试验 GJB150.5A-

军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB150.5-

军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB150.5-

环境试验 第2部分：试验方法 试验Q：密封 Qk、Qc

军用设备环境试验方法冲击试验 GJB150.18-1986 试验五

军用设备环境试验方法冲击试验 GJB150.18-1986 试验五

军用设备环境试验方法冲击试验 GJB150.18A-2009 程序Ⅰ、程序Ⅴ

军用设备环境试验方法冲击试验 GJB150.18A-2009 程序Ⅰ、程序Ⅴ

环境试验 第2部分：试验方法 试验Fc：振动（正弦）

军用装备实验室环境试验方法第16部分：振动试验 GJB150.16A-2009 程序Ⅰ、Ⅳ

军用装备实验室环境试验方法第16部分：振动试验 GJB150.16A-2009 程序Ⅰ、Ⅳ

军用设备环境试验方法振动试验 GJB150.16-1986 程序Ⅰ、Ⅳ

军用设备环境试验方法振动试验 GJB150.16-1986 程序Ⅰ、Ⅳ

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ga：稳态加速度

军用装备实验室环境试验方法第15部分：加速度试验 GJB150.15A-2009 程序Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ

军用装备实验室环境试验方法第15部分：加速度试验 GJB150.15A-2009 程序Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ

军用设备环境试验方法加速度试验 GJB150.15-1986 第Ⅰ类、第Ⅱ类

军用设备环境试验方法加速度试验 GJB150.15-1986 第Ⅰ类、第Ⅱ类

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验T：锡焊 Ta方法1、2和试验Tb方法1A、1B、

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1010A

微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1010A

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107（空气介质）

电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法107（空气介质）

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路 第Ⅳ篇 第2节