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中国电子科技集团公司第四十三研究所混合集成电路及电子元器件检测实验室

当前查看:中国电子科技集团公司第四十三研究所混合集成电路及电子元器件检测实验室

北京市 · 北京市

地址:北京市海淀区万寿路27号

联系电话:010-68200821

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“老炼”筛选,展示 9 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 5 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法

3 项检测项目

检测项目:老炼(二极管、整流管和稳压管)、老炼(晶体管)、老炼和寿命试验(功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管)

检测对象:半导体分立器件

老炼(二极管、整流管和稳压管)老炼(晶体管)老炼和寿命试验(功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管)

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法

3 项检测项目

检测项目:老炼(二极管、整流管和稳压管)、老炼(晶体管)、老炼和寿命试验(功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管)

检测对象:半导体分立器件

老炼(二极管、整流管和稳压管)老炼(晶体管)老炼和寿命试验(功率场效应晶体管或绝缘栅双极晶体管)

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、

微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法1005.1、

1 项检测项目

检测项目:老炼、寿命试验

检测对象:电子元器件

老炼、寿命试验

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、

微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1005.1、

1 项检测项目

检测项目:老炼、寿命试验

检测对象:电子元器件

老炼、寿命试验

微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1005A、1015A

微电子器件试验方法和程序 GJB548A-96 方法1005A、1015A

1 项检测项目

检测项目:老炼、寿命试验

检测对象:电子元器件

老炼、寿命试验

机构信息

机构名称

中国电子科技集团公司第四十三研究所混合集成电路及电子元器件检测实验室

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市海淀区万寿路27号

联系电话

010-68200821

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