当前查看：中国电子科技集团公司第四十三研究所混合集成电路及电子元器件检测实验室
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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T17574-1998”筛选，展示 6 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、静态条件下的电源电流、输入箝位电压
检测对象：数字集成电路