数据更新时间
2026-05-12
按“硅”筛选，展示 25 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 14 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
工业三氯氢硅
检测项目：二氯二氢硅、三氯氢硅、四氯化硅、氯硅烷聚合物、硼含量
检测对象：工业三氯氢硅
工业硅化学分析方法 第4部分:杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
检测项目：铁含量、铝含量、钙含量
检测对象：工业硅
检测项目：硅含量、粒度
检测对象：工业硅
硅单晶中III、V族杂质含量的测定 低温傅立叶变换红外光谱法
检测项目：施主含量、受主含量
检测对象：电子级多晶硅、太阳能级多晶硅
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法
检测项目：氧含量
检测对象：电子级多晶硅、太阳能级多晶硅
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶
硅多晶断面夹层化学腐蚀检验方法
检测项目：结构
检测对象：电子级多晶硅、太阳能级多晶硅
硅片直径测量方法
检测项目：直径及允许误差
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶
硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针法
检测项目：电阻率
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶
硅片径向电阻率变化的测量方法
检测项目：径向电阻率变化
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶
硅和锗体内少数载流子寿命测定 光电导衰减法
检测项目：少数载流子寿命
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶
检测对象：电子级多晶硅、太阳能级多晶硅
硅中代位碳含量的红外吸收测试方法
检测项目：碳含量
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶
检测对象：电子级多晶硅、太阳能级多晶硅
硅晶体完整性化学择优腐蚀检验方法
检测项目：晶体完整性
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶
非本征半导体材料导电类型测试方法
检测项目：导电类型
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶
半导体单晶晶向测定方法
检测项目：晶向
检测对象：硅单晶及太阳电池用硅单晶