数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 1008.1
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 1018
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量 GJB151B-2013 5.13
微电路试验标准方法 MIL-STD-883K:2016 1008.2
可编程逻辑器件软件测试指南 GB/T 33783-2017 9.1
军用可编程逻辑器件软件测试要求 GJB 9433-2018 5.3.1
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB151A-97 5.3.1
军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB152A-97 5
中国科学院空间应用工程与技术中心高可靠产品评测与试验中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB548C-2021、GJB128B-2021、GJB151B-2013、MIL-STD-883K:2016、GB/T 33783-2017、GJB 9433-2018 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件、电子电气产品、信息设备、专用设备和分系统、可编程逻辑器件软件、专用及民用电子产品、电气产品、机械产品、机电产品、专用系统、嵌入式软件、应用软件、集成电路 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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