数据更新时间
2026-05-12
按“镜检”筛选，展示 11 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 7 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
GJB4027B-2021
军用电子元器件破坏性物理分析方法
检测项目：制样镜检、扫描电子显微镜检查、声学扫描显微镜检查
检测对象：电子元器件
MIL-STD-1580B:2003
电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析
检测项目：制样镜检、扫描电子显微镜检查、声学扫描显微镜检查
检测对象：电子元器件
GJB548C-2021
微电子器件试验方法和程序
检测项目：扫描电子显微镜检查（金属化扫描电子显微镜检查）
检测对象：电子元器件
GJB128B-2021
半导体分立器件试验方法
检测项目：扫描电子显微镜检查（金属化扫描电子显微镜检查）
检测对象：电子元器件
MIL-STD-883K:2016
微电路试验标准方法
检测项目：扫描电子显微镜检查（金属化扫描电子显微镜检查）
检测对象：电子元器件
MIL-STD-750E:2006
半导体分立器件试验方法标准方法
检测项目：扫描电子显微镜检查（金属化扫描电子显微镜检查）
检测对象：电子元器件
NASA/TP-2003-212244
PEM-INST-001:塑封微电路（PEM）选择、筛选和鉴定说明
检测项目：声学扫描显微镜检查
检测对象：电子元器件