数据更新时间
2026-05-12
按“碳”筛选，展示 14 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 14 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
钢的游离渗碳体、珠光体和魏氏组织的评定方法
检测项目：显微组织
检测对象：金属材料及制品
低碳钢冷轧薄板铁素体晶粒度测定法 GB/T 4335-
检测项目：晶粒度
检测对象：金属材料及制品
钢的脱碳层深度测定法 GB/T 224-
检测项目：脱碳层深度
检测对象：金属材料及制品
钢件渗碳淬火硬化层深度的测定和校核 GB/T 9450-
检测项目：硬化层深度
检测对象：金属材料及制品
碳素钢和中低合金钢 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法（常规法） GB/T 4336-
检测项目：碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、钨、钼、钒、铝、钛、铜
检测对象：金属材料及制品
钢铁 总碳硫含量的测定 高频感应炉燃烧后红外吸收法(常规方法)
检测项目：碳、硫
检测对象：金属材料及制品
GJB 128A-1997
半导体分立器件试验方法 方法1071 试验条件C 氟碳液粗检漏试验：密封试验
检测项目：密封试验
检测对象：通用设备、电工电子产品
GJB 128B-2021
半导体分立器件试验方法 方法1071 试验条件C 氟碳液粗检漏试验：密封试验
检测项目：密封试验
检测对象：通用设备、电工电子产品
GJB 548C-2021
微电子器件试验方法和程序 方法1014.2 试验条件C1 碳氟化合物检漏：密封试验
检测项目：密封试验
检测对象：通用设备、电工电子产品
GJB 548A-1996
微电子器件试验方法和程序 方法1014A 试验条件C1 碳氟化合物检漏：密封试验
检测项目：密封试验
检测对象：通用设备、电工电子产品
GJB 548B-2005
微电子器件试验方法和程序 方法1014.2 试验条件C1 碳氟化合物检漏：密封试验
检测项目：密封试验
检测对象：通用设备、电工电子产品
ASTM G155-13
非金属材料暴露用封闭式碳弧光仪器操作标准实施规程
检测项目：氙灯老化
检测对象：塑料、橡胶及制品性能检测
铸铁 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法(常规法)
检测项目：碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、钼、铝、铜、钨、钛、钒、镁、镧、铈
检测对象：金属材料及制品
不锈钢 多元素含量的测定 火花放电原子发射光谱法（常规法）
检测项目：碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、钼、铝、铜、钨、钛、钒
检测对象：金属材料及制品