数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T17574-1998”筛选，展示 17 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 方法
检测项目：输入簎位电压、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、输出高阻态电流、静态条件下的电源电流
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路模拟开关