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北京芯可鉴科技有限公司工业芯片检测分析实验室

当前查看:北京芯可鉴科技有限公司工业芯片检测分析实验室

北京市 · 北京市

地址:北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层

联系电话:010-52613128

数据更新时间

2026-05-12

能力范围

按“电路”筛选,展示 282 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。

按标准归类为 34 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。

T/CIE 080-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 15 部分: 超高频射频识别

24 项检测项目

检测项目:强制功能检测、射频一致性检测、协议一致性检测、性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测 等 24 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-超高频射频识别芯片

强制功能检测射频一致性检测协议一致性检测性能检测早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测静态高温长时间保存下数据退化检测高温读写+保存数据退化检测常温读写+保存数据退化及只读检测低温读写湿敏等级检测预处理检测无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度

T/CIE 071-2020

工业级高可靠性集成电路评价 第 6 部分: 蓝牙芯片

22 项检测项目

检测项目:射频性能、功耗性能、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测、高温读写+保存数据退化检测、常温读写+保存数据退化及只读检测 等 22 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-蓝牙芯片

射频性能功耗性能早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测静态高温长时间保存下数据退化检测高温读写+保存数据退化检测常温读写+保存数据退化及只读检测低温读写湿敏等级检测预处理检测无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度

T/CIE 073-2020

工业级高可靠集成电路评价第8部分:微控制器 (MCU)

22 项检测项目

检测项目:电气性能检测、功能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测、高温读写+保存数据退化检测、常温读写+保存数据退化及只读检测 等 22 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-MCU 芯片

电气性能检测功能检测早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测静态高温长时间保存下数据退化检测高温读写+保存数据退化检测常温读写+保存数据退化及只读检测低温读写湿敏等级检测预处理检测无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度

T/CIE 081-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分: 高频射频识别

21 项检测项目

检测项目:性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测、高温读写+保存数据退化检测、常温读写+保存数据退化及只读检测、低温读写 等 21 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-高频射频识别芯片

性能检测早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测静态高温长时间保存下数据退化检测高温读写+保存数据退化检测常温读写+保存数据退化及只读检测低温读写湿敏等级检测预处理检测无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度

T/CIE 070-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分:非易失性存储器

20 项检测项目

检测项目:电气参数检测、接口协议检测、擦写读取检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测、高温读写+保存数据退化检测 等 20 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-非易失性存储器

电气参数检测接口协议检测擦写读取检测早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测静态高温长时间保存下数据退化检测高温读写+保存数据退化检测常温读写+保存数据退化及只读检测低温读写湿敏等级检测预处理检测温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度

SJ 20961-2006

集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理

19 项检测项目

检测项目:最高工作频率、最低工作频率、失调误差、增益误差、零点误差、信噪比、总谐波失真、有效位 等 19 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-A/D和D/A转换器

最高工作频率最低工作频率失调误差增益误差零点误差信噪比总谐波失真有效位无失真动态范围建立时间转换时间顺从电压范围基准电压数字输出高电平电压数字输出低电平电压数字输入高电平电压数字输入低电平电压数字输入高电平电流数字输入低电平电流

T/CIE 067-2020

工业级高可靠集成电路评价第1部 分:AC/DC电路

18 项检测项目

检测项目:电气参数检测、功能性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、湿敏等级检测、预处理检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST) 等 18 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-AC/DC 电路

电气参数检测功能性能检测早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测湿敏等级检测预处理检测无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度

T/CIE 068-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 2 部分: DC/DC 变换器

18 项检测项目

检测项目:电气参数检测、功能性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、湿敏等级检测、预处理检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST) 等 18 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-DC/DC 变换器

电气参数检测功能性能检测早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测湿敏等级检测预处理检测无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度

T/CIE 069-2020

工业级高可靠性集成电路评价 第 3 部分: 功率放大器

17 项检测项目

检测项目:功能性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、湿敏等级检测、预处理检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)、高加速温湿度寿命检测(HAST) 等 17 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-功率放大器(PA)

功能性能检测早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测湿敏等级检测预处理检测无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度

T/CIE 072-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 7 部分: AD 和 DA 转换器

17 项检测项目

检测项目:ADC特性检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、湿敏等级检测、预处理检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)、高加速温湿度寿命检测(HAST) 等 17 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-AD 和 DA 转换器

ADC特性检测早夭期寿命检测高温工作寿命检测低温工作寿命检测湿敏等级检测预处理检测无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)温度循环检测(TC)静电放电-人体模型检测(ESD-HBM)静电放电-带电器件模型检测(ESD-CDM)闩锁检测(Latch-up)芯片辐射电场抗扰度芯片的 DPI 传导抗扰度芯片的 EFT 传导抗扰度芯片的 PESD 传导抗扰度
GB/T 17574-1998

半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 Ⅳ 第2节

15 项检测项目

检测项目:输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、静态条件下的电源电流、滞后电压、输入钳位电压 等 15 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-数字集成电路

输出高电平电压输出低电平电压输入高电平电流输入低电平电流输出短路电流静态条件下的电源电流滞后电压输入钳位电压输出高阻态电流动态条件下的总电源电流通过时钟线所提供的功率时序电路的转换频率建立时间和保持时间延迟时间和转换时间(双极型电路、MOS电路)分辨时间

T/CIE 075-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 10 部分: 温度传感器

10 项检测项目

检测项目:静电放电抗扰度试验、脉冲磁场抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验、电快速瞬变脉冲群抗扰度、阻尼振荡磁场抗扰度、温度变化、振动、防护等级 等 10 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-温度传感器

静电放电抗扰度试验脉冲磁场抗扰度试验工频磁场抗扰度试验电快速瞬变脉冲群抗扰度阻尼振荡磁场抗扰度温度变化振动防护等级盐雾试验耐久性试验

T/CIE 077-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 12 部分: 倾角传感器

10 项检测项目

检测项目:静电放电抗扰度试验、脉冲磁场抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验、高温性能、低温性能、交变湿热性能、防护等级、冲击试验 等 10 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-倾角传感器

静电放电抗扰度试验脉冲磁场抗扰度试验工频磁场抗扰度试验高温性能低温性能交变湿热性能防护等级冲击试验盐雾试验老化试验

T/CIE 078-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 13 部分: 湿度传感器

10 项检测项目

检测项目:静电放电抗扰度试验、脉冲磁场抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验、阻尼振荡磁场抗扰度、高温性能、低温性能、交变湿热性能、抗冲击性能 等 10 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-湿度传感器

静电放电抗扰度试验脉冲磁场抗扰度试验工频磁场抗扰度试验阻尼振荡磁场抗扰度高温性能低温性能交变湿热性能抗冲击性能防护等级盐雾试验

T/CIE 076-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 11 部分: 压力传感器

9 项检测项目

检测项目:静电放电抗扰度、脉冲磁场抗扰度、工频磁场抗扰度、高温性能、低温性能、交变湿热性能、防护等级、盐雾试验 等 9 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-压力传感器

静电放电抗扰度脉冲磁场抗扰度工频磁场抗扰度高温性能低温性能交变湿热性能防护等级盐雾试验抗冲击性能

T/CIE 079-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 14 部分: 图像传感器

9 项检测项目

检测项目:静电放电抗扰度试验、脉冲磁场抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验、高温试验、低温试验、交变湿热性能试验、防护等级试验、盐雾试验 等 9 项,点击展开全部

检测对象:集成电路-图像传感器

静电放电抗扰度试验脉冲磁场抗扰度试验工频磁场抗扰度试验高温试验低温试验交变湿热性能试验防护等级试验盐雾试验老化试验

T/CIE070—2020

工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分:非易失性存储器

3 项检测项目

检测项目:无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)、高加速温湿度寿命检测(HAST)、高温存储检测(HTSL)

检测对象:集成电路-非易失性存储器

无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)高加速温湿度寿命检测(HAST)高温存储检测(HTSL)

IEC 62215-3:2013

集成电路-脉冲抗扰度的测量-第3部分:非同步瞬态注入法

2 项检测项目

检测项目:芯片传导抗扰度(EFT)、芯片传导抗扰度(PESD)

检测对象:电子元器件

芯片传导抗扰度(EFT)芯片传导抗扰度(PESD)

JEDEC JESD78F.02:2023

集成电路闩锁测试

1 项检测项目

检测项目:集成电路闩锁测试

检测对象:电子元器件

集成电路闩锁测试

AEC-Q100-004D:2012

集成电路闩锁测试

1 项检测项目

检测项目:集成电路闩锁测试

检测对象:电子元器件

集成电路闩锁测试

IEC 62132-2:2010

集成电路-电磁抗扰度的测量-第2部分:辐射抗扰度的测量-TEM小室和宽带TEM小室法

1 项检测项目

检测项目:芯片辐射抗扰度

检测对象:电子元器件

芯片辐射抗扰度
GB/T 42968.2-2024

集成电路-电磁抗扰度的测量-第2部分:辐射抗扰度的测量-TEM小室和宽带TEM小室法

1 项检测项目

检测项目:芯片辐射抗扰度

检测对象:电子元器件

芯片辐射抗扰度

SJ21473.2-2018

军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第2 部分:辐射抗扰度测量—TEM小室和宽带TEM小室法

1 项检测项目

检测项目:芯片辐射抗扰度

检测对象:电子元器件

芯片辐射抗扰度

IEC 61967-2:2005

集成电路电磁发射测试第2部分:辐射发射测试-TEM小室和宽带TEM小室

1 项检测项目

检测项目:芯片级辐射发射测试-TEM小室法

检测对象:电子元器件

芯片级辐射发射测试-TEM小室法

军用集成电路电磁发射测量方法第2 部分:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法 SJ21147.2-

军用集成电路电磁发射测量方法第2 部分:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法 SJ21147.2-

1 项检测项目

检测项目:芯片级辐射发射测试-TEM小室法

检测对象:电子元器件

芯片级辐射发射测试-TEM小室法

SAE J1752-3:2017

集成电路辐射发射测量方法-TEM/宽带TEM(GTEM)小室法;TEM小室(150kHz~1GHz),宽带TEM小室法 (150kHz~8GHz)

1 项检测项目

检测项目:芯片级辐射发射测试-TEM小室法

检测对象:电子元器件

芯片级辐射发射测试-TEM小室法

IEC TS 61967-3:2014

集成电路电磁发射测试第3部分:辐射发射测试-表面扫描法

1 项检测项目

检测项目:芯片级辐射发射测试-表面扫描法

检测对象:电子元器件

芯片级辐射发射测试-表面扫描法

IEC 61967-4:2021

集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法

1 项检测项目

检测项目:芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法

检测对象:电子元器件

芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法

IEC 61967-4:2006

集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法

1 项检测项目

检测项目:芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法

检测对象:电子元器件

芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法

IEC 61967-4:2002

集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法

1 项检测项目

检测项目:芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法

检测对象:电子元器件

芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法

军用集成电路电磁发射测量方法 第4 部分:传导发射测 量—1Ω/150Ω直接耦合法 SJ21147.4-

军用集成电路电磁发射测量方法 第4 部分:传导发射测 量—1Ω/150Ω直接耦合法 SJ21147.4-

1 项检测项目

检测项目:芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法

检测对象:电子元器件

芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法

IEC 62132-4:2006

集成电路.电磁抗扰度150khz~1ghz的测量.第4部分:直接射频功率注入法

1 项检测项目

检测项目:芯片传导抗扰度 -直接射频功率注入法 (DPI)

检测对象:电子元器件

芯片传导抗扰度 -直接射频功率注入法 (DPI)

军用集成电路电磁抗扰度测量方法第 4 部分:传导抗扰度测量—射频功率直接注入法 SJ21473.4-

军用集成电路电磁抗扰度测量方法第 4 部分:传导抗扰度测量—射频功率直接注入法 SJ21473.4-

1 项检测项目

检测项目:芯片传导抗扰度 -直接射频功率注入法 (DPI)

检测对象:电子元器件

芯片传导抗扰度 -直接射频功率注入法 (DPI)

T/CIE 074-2020

工业级高可靠集成电路评价 第 9 部分:电表用微控制器(MCU)

1 项检测项目

检测项目:管理模组功能评价

检测对象:集成电路-电表用微控制器(MCU)

管理模组功能评价

机构信息

机构名称

北京芯可鉴科技有限公司工业芯片检测分析实验室

所在地区

北京市 · 北京市

企业地址

北京市昌平区双营西路79号院中科云谷园11号楼一层

联系电话

010-52613128

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