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2026-05-12
按“电路”筛选,展示 282 条相关能力(含该机构旗下分支机构)。
按标准归类为 34 个标准,每个标准下方直接显示可检测项目,点击可展开全部。
T/CIE 080-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 15 部分: 超高频射频识别
检测项目:强制功能检测、射频一致性检测、协议一致性检测、性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测 等 24 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-超高频射频识别芯片
T/CIE 071-2020
工业级高可靠性集成电路评价 第 6 部分: 蓝牙芯片
检测项目:射频性能、功耗性能、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测、高温读写+保存数据退化检测、常温读写+保存数据退化及只读检测 等 22 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-蓝牙芯片
T/CIE 073-2020
工业级高可靠集成电路评价第8部分:微控制器 (MCU)
检测项目:电气性能检测、功能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测、高温读写+保存数据退化检测、常温读写+保存数据退化及只读检测 等 22 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-MCU 芯片
T/CIE 081-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分: 高频射频识别
检测项目:性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测、高温读写+保存数据退化检测、常温读写+保存数据退化及只读检测、低温读写 等 21 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-高频射频识别芯片
T/CIE 070-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分:非易失性存储器
检测项目:电气参数检测、接口协议检测、擦写读取检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、静态高温长时间保存下数据退化检测、高温读写+保存数据退化检测 等 20 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-非易失性存储器
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目:最高工作频率、最低工作频率、失调误差、增益误差、零点误差、信噪比、总谐波失真、有效位 等 19 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-A/D和D/A转换器
T/CIE 067-2020
工业级高可靠集成电路评价第1部 分:AC/DC电路
检测项目:电气参数检测、功能性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、湿敏等级检测、预处理检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST) 等 18 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-AC/DC 电路
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 2 部分: DC/DC 变换器
检测项目:电气参数检测、功能性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、湿敏等级检测、预处理检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST) 等 18 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-DC/DC 变换器
T/CIE 069-2020
工业级高可靠性集成电路评价 第 3 部分: 功率放大器
检测项目:功能性能检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、湿敏等级检测、预处理检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)、高加速温湿度寿命检测(HAST) 等 17 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-功率放大器(PA)
T/CIE 072-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 7 部分: AD 和 DA 转换器
检测项目:ADC特性检测、早夭期寿命检测、高温工作寿命检测、低温工作寿命检测、湿敏等级检测、预处理检测、无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)、高加速温湿度寿命检测(HAST) 等 17 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-AD 和 DA 转换器
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 Ⅳ 第2节
检测项目:输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、静态条件下的电源电流、滞后电压、输入钳位电压 等 15 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-数字集成电路
T/CIE 075-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 10 部分: 温度传感器
检测项目:静电放电抗扰度试验、脉冲磁场抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验、电快速瞬变脉冲群抗扰度、阻尼振荡磁场抗扰度、温度变化、振动、防护等级 等 10 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-温度传感器
T/CIE 077-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 12 部分: 倾角传感器
检测项目:静电放电抗扰度试验、脉冲磁场抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验、高温性能、低温性能、交变湿热性能、防护等级、冲击试验 等 10 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-倾角传感器
T/CIE 078-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 13 部分: 湿度传感器
检测项目:静电放电抗扰度试验、脉冲磁场抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验、阻尼振荡磁场抗扰度、高温性能、低温性能、交变湿热性能、抗冲击性能 等 10 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-湿度传感器
T/CIE 076-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 11 部分: 压力传感器
检测项目:静电放电抗扰度、脉冲磁场抗扰度、工频磁场抗扰度、高温性能、低温性能、交变湿热性能、防护等级、盐雾试验 等 9 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-压力传感器
T/CIE 079-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 14 部分: 图像传感器
检测项目:静电放电抗扰度试验、脉冲磁场抗扰度试验、工频磁场抗扰度试验、高温试验、低温试验、交变湿热性能试验、防护等级试验、盐雾试验 等 9 项,点击展开全部
检测对象:集成电路-图像传感器
T/CIE070—2020
工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分:非易失性存储器
检测项目:无偏压高加速温湿度寿命检测(UHAST)、高加速温湿度寿命检测(HAST)、高温存储检测(HTSL)
检测对象:集成电路-非易失性存储器
IEC 62215-3:2013
集成电路-脉冲抗扰度的测量-第3部分:非同步瞬态注入法
检测项目:芯片传导抗扰度(EFT)、芯片传导抗扰度(PESD)
检测对象:电子元器件
JEDEC JESD78F.02:2023
集成电路闩锁测试
检测项目:集成电路闩锁测试
检测对象:电子元器件
AEC-Q100-004D:2012
集成电路闩锁测试
检测项目:集成电路闩锁测试
检测对象:电子元器件
IEC 62132-2:2010
集成电路-电磁抗扰度的测量-第2部分:辐射抗扰度的测量-TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目:芯片辐射抗扰度
检测对象:电子元器件
集成电路-电磁抗扰度的测量-第2部分:辐射抗扰度的测量-TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目:芯片辐射抗扰度
检测对象:电子元器件
SJ21473.2-2018
军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第2 部分:辐射抗扰度测量—TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目:芯片辐射抗扰度
检测对象:电子元器件
IEC 61967-2:2005
集成电路电磁发射测试第2部分:辐射发射测试-TEM小室和宽带TEM小室
检测项目:芯片级辐射发射测试-TEM小室法
检测对象:电子元器件
军用集成电路电磁发射测量方法第2 部分:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法 SJ21147.2-
军用集成电路电磁发射测量方法第2 部分:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法 SJ21147.2-
检测项目:芯片级辐射发射测试-TEM小室法
检测对象:电子元器件
SAE J1752-3:2017
集成电路辐射发射测量方法-TEM/宽带TEM(GTEM)小室法;TEM小室(150kHz~1GHz),宽带TEM小室法 (150kHz~8GHz)
检测项目:芯片级辐射发射测试-TEM小室法
检测对象:电子元器件
IEC TS 61967-3:2014
集成电路电磁发射测试第3部分:辐射发射测试-表面扫描法
检测项目:芯片级辐射发射测试-表面扫描法
检测对象:电子元器件
IEC 61967-4:2021
集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法
检测项目:芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法
检测对象:电子元器件
IEC 61967-4:2006
集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法
检测项目:芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法
检测对象:电子元器件
IEC 61967-4:2002
集成电路-电磁发射的测量-第4部分:传导发射测量- 1Ω&150Ω直接耦合法
检测项目:芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法
检测对象:电子元器件
军用集成电路电磁发射测量方法 第4 部分:传导发射测 量—1Ω/150Ω直接耦合法 SJ21147.4-
军用集成电路电磁发射测量方法 第4 部分:传导发射测 量—1Ω/150Ω直接耦合法 SJ21147.4-
检测项目:芯片级传导发射测试-1Ω&150Ω直接耦合法
检测对象:电子元器件
IEC 62132-4:2006
集成电路.电磁抗扰度150khz~1ghz的测量.第4部分:直接射频功率注入法
检测项目:芯片传导抗扰度 -直接射频功率注入法 (DPI)
检测对象:电子元器件
军用集成电路电磁抗扰度测量方法第 4 部分:传导抗扰度测量—射频功率直接注入法 SJ21473.4-
军用集成电路电磁抗扰度测量方法第 4 部分:传导抗扰度测量—射频功率直接注入法 SJ21473.4-
检测项目:芯片传导抗扰度 -直接射频功率注入法 (DPI)
检测对象:电子元器件
T/CIE 074-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 9 部分:电表用微控制器(MCU)
检测项目:管理模组功能评价
检测对象:集成电路-电表用微控制器(MCU)