数据更新时间
2026-05-12
按“Mo”筛选，展示 3 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 3 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
JEDEC JESD28-A-2001
直流应力下NMOS器件热载流子退化测试方法
检测项目：直流应力下NMOS器件热载流子退化测试
检测对象：电子元器件
JEDEC JESD60A-2004
直流应力下PMOS器件热载流子退化测试方法
检测项目：直流应力下PMOS器件热载流子退化测试
检测对象：电子元器件
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 Ⅳ 第3节
检测项目：延迟时间和转换时间(双极型电路、MOS电路)
检测对象：集成电路-数字集成电路