数据更新时间
2026-05-12
按“Tc”筛选，展示 19 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 10 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
T/CIE 067-2020
工业级高可靠集成电路评价第1部 分：AC/DC电路
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-AC/DC 电路
T/CIE 068-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 2 部分： DC/DC 变换器
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-DC/DC 变换器
T/CIE 069-2020
工业级高可靠性集成电路评价 第 3 部分： 功率放大器
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-功率放大器(PA)
T/CIE 070-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 4 部分：非易失性存储器
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-非易失性存储器
T/CIE 071-2020
工业级高可靠性集成电路评价 第 6 部分： 蓝牙芯片
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-蓝牙芯片
T/CIE 072-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 7 部分： AD 和 DA 转换器
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-AD 和 DA 转换器
T/CIE 073-2020
工业级高可靠集成电路评价第8部分：微控制器 (MCU)
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-MCU 芯片
T/CIE 080-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 15 部分： 超高频射频识别
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-超高频射频识别芯片
T/CIE 081-2020
工业级高可靠集成电路评价 第 16 部分： 高频射频识别
检测项目：温度循环检测（TC）、闩锁检测（Latch-up）
检测对象：集成电路-高频射频识别芯片
JEDEC JESD22-A104F.01:2023
温度循环测试
检测项目：温度循环试验(TC)
检测对象：电子元器件