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数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 42968.2-2024”筛选，展示 1 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
IEC62132-2: 2010
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分：辐射抗扰度测量 TEM小室和宽带TEM小室法 GB/T 42968.2-2024 5, 6.1-6.4, 6.6, 6.7,
检测项目：辐射抗扰度（TEM小室法）
检测对象：集成电路