数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
LED测量 CIE 127:2007 2
LED测量 CIE127:2007 2
微电路失效分析程序方法： 5003 MIL-STD-883J:2013 方法5003 3.1.1
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 A：低温 GB/T 2423.1-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 B：高温 GB/T 2423.2-2008
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 N：温度变化 GB/T 2423.22-2012
电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Cab：恒定湿热 GB/T 2423.3-2016
环境试验 第2-14部分：试验方法 试验 N：温度变化 IEC 60068-2-14:2009
深圳市聚飞光电股份有限公司实验室已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 CIE 127:2007、CIE127:2007、MIL-STD-883J:2013、GB/T 2423.1-2008、GB/T 2423.2-2008、GB/T 2423.22-2012 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 LED模组、LED灯珠、电子元器件 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
