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2026-05-12
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军用设备环境试验方法 淋雨试验 GJB 150.8-
军用设备环境试验方法 淋雨试验 GJB 150.8-
检测项目:淋雨试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第8部分:淋雨试验 GJB 150.8A-
军用装备实验室环境试验方法 第8部分:淋雨试验 GJB 150.8A-
检测项目:淋雨试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用设备环境试验方法 砂尘试验 GJB 150.12-
军用设备环境试验方法 砂尘试验 GJB 150.12-
检测项目:砂尘试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第12部分:砂尘试验 GJB 150.12A-
军用装备实验室环境试验方法 第12部分:砂尘试验 GJB 150.12A-
检测项目:砂尘试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用设备环境试验方法 高温试验 GJB150.3-
军用设备环境试验方法 高温试验 GJB150.3-
检测项目:高温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第3部分 高温试验 GJB150.3A-
军用装备实验室环境试验方法 第3部分 高温试验 GJB150.3A-
检测项目:高温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温
检测项目:高温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB 4.2-
舰船电子设备环境试验 高温试验 GJB 4.2-
检测项目:高温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-
军用设备环境试验方法 低温试验 GJB150.4-
检测项目:低温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验 GJB150.4A-
军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验 GJB150.4A-
检测项目:低温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温
检测项目:低温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-
舰船电子设备环境试验 低温试验 GJB 4.3-
检测项目:低温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-
舰船电子设备环境试验 低温贮存试验 GJB 4.4-
检测项目:低温试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB150.5-
军用设备环境试验方法 温度冲击试验 GJB150.5-
检测项目:温度冲击试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第5部分 温度冲击试验 GJB150.5A-
军用装备实验室环境试验方法 第5部分 温度冲击试验 GJB150.5A-
检测项目:温度冲击试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-
军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-
检测项目:振动试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 GJB150.16A-
军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 GJB150.16A-
检测项目:振动试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-
舰船电子设备环境试验 振动试验 GJB 4.7-
检测项目:振动试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用设备环境试验方法 冲击试验
检测项目:冲击试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
军用装备实验室环境试验方法 第18部分 冲击试验 GJB150.18A-
军用装备实验室环境试验方法 第18部分 冲击试验 GJB150.18A-
检测项目:冲击试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-
舰船电子设备环境试验 颠震试验 GJB 4.8-
检测项目:冲击试验
检测对象:专用设备、电工电子产品
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T10805-2018
检测项目:开环电压增益
检测对象:半导体集成电路电压比较器
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 第Ⅳ章 第2节
检测项目:开环电压放大倍数
检测对象:半导体集成电路运算(电压)放大器
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法
检测项目:温度循环(空气-空气)
检测对象:半导体分立器件
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
半导体分立器件试验方法 GJB128B-2021 方法
检测项目:温度循环(空气-空气)
检测对象:半导体分立器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法
检测项目:温度循环
检测对象:微电子器件
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
微电子器件试验方法和程序 GJB548C-2021 方法
检测项目:温度循环
检测对象:微电子器件