深圳振华富电子有限公司检验试验中心

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.12

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.21

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1010.1

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.2

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.3

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.15

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.15

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.16

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998 4.6.21

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.3

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.24

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015 4.5.21

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.4

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.3

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.3

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.15

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.15

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法208,方法210

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法208,方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法208,方法210

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法208,方法

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验T：锡焊 GB/T 2423.28-2005

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2003.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2003.2

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法108

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.10

射频固定和可变片式电感器通用规范GJB 1864A-2011 4.5.11,4.5.12

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.11,

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.13，4.6.21

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992 4.6.13,

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.14，4.5.23

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015 4.5.14,

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.8，4.7.11

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.8,

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.6,4.5.13

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.10,

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.9,4.6.22

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998 4.6.9,

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.6,4.5.14

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.10,4.6.21

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018 4.6.10,

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.12,4.7.8

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999 4.7.12,

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法108

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.12,4.5.8

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.12,4.5.8

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.9,4.6.10

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993 4.6.9,

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.9,4.5.10

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015 4.5.9,

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法211

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.16

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.21

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法211

电子及电气元件试验方 GJB 360A-1996 方法

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.11

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.13

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.14，4.6.9

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.14,

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.13

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.13

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2004.2

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2004.3

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.11

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.12

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.12

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.19

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.18

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.19

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.16，4.5.10

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.16,

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.13

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.13

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法101

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法101

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Ka 盐雾GB/T 2423.17-2008

电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验Ka 盐雾 GB/T 2423.17-

环境试验 第2部分：试验方法 试验Kb：盐雾，交变(氯化钠溶液) GB/T 2423.18-2021

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1009.2

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1009.2

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.18

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.14

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992

电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温 GB/T 2423.2-2008

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.17

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法104

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法104

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1002

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1002

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.17

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.28

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.30

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法215

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.14,4.6.24

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998 4.6.14,4.6.24,

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法215

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2015.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2015.2

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992 4.6.2

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.22

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.9

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.29

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.7

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.31

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.14

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.19,4.5.18,4.5.10

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.19,

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.14

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.14

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993 4.6.11

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.11

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015

军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB 4027A-2006 项目0100～1600

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0106第2.2条,0201~0210第2.2条,0401第2.2条,0801~0803第2.2条,1101~1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB 4027B-2021 项目0100～1600

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0106第2.2条,0201~0210第2.2条,0401第2.2条,0801~0803第2.2条,1101~1104

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1101~1103第2.3条,0105第2.3条,0207第2.3条,0401第2.4条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1101~1103第2.3条,0105第2.3条,0207第2.3条,0401第2.4条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1104第2.4条,0105第2.4条,0207第2.4条,0401第2.5条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1104第2.4条,0105第2.4条,0207第2.4条,0401第2.5条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0102第2.5条，0103~0104第2.3条,0801~0802第2.5条，0803第2.3条,0201~0203第2.5条,0207第2.6条，0208第2.3条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0102第2.5条，0103~0104第2.3条,0801~0802第2.5条，0803第2.3条,0201~0203第2.5条,0207第2.6条，0208第2.3条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0102第2.6条，0103第2.5条，0104第2.4条,0801~0802第2.6条，0803第2.4条,0201~0203第2.6条,0207第2.7条，0208第2.4条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0102第2.6条，0103第2.5条，0104第2.4条,0801~0802第2.6条，0803第2.4条,0201~0203第2.6条,0207第2.7条，0208第2.4条,0401