深圳振华富电子有限公司检验试验中心

射频干扰滤波器总规范GJB 1518-1992 4.6.13，4.6.21

射频干扰滤波器总规范 GJB 1518-1992 4.6.13,

射频干扰滤波器通用规范GJB 1518A-2015 4.5.14，4.5.23

射频干扰滤波器通用规范 GJB 1518A-2015 4.5.14,

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.8，4.7.11

中频、射频和鉴频变压器总规范 GJB 1661-1993 4.7.8,

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.14，4.6.9

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864-1994 4.6.14,

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.16，4.5.10

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.16,

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0102第2.5条，0103~0104第2.3条,0801~0802第2.5条，0803第2.3条,0201~0203第2.5条,0207第2.6条，0208第2.3条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0102第2.5条，0103~0104第2.3条,0801~0802第2.5条，0803第2.3条,0201~0203第2.5条,0207第2.6条，0208第2.3条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0102第2.6条，0103第2.5条，0104第2.4条,0801~0802第2.6条，0803第2.4条,0201~0203第2.6条,0207第2.7条，0208第2.4条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0102第2.6条，0103第2.5条，0104第2.4条,0801~0802第2.6条，0803第2.4条,0201~0203第2.6条,0207第2.7条，0208第2.4条,0401

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0102第2.3条,0802第2.3条,0201~0203第2.3条，0204第2.4条,0106

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0102第2.3条,0802第2.3条,0201~0203第2.3条，0204第2.4条,0106

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0102第2.4条,0802第2.4条,0201~0203第2.4条，0204第2.5条,0106

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0102第2.4条,0802第2.4条,0201~0203第2.4条，0204第2.5条,0106

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0106第2.7条,1101~1102第2.8条，1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0106第2.7条,1101~1102第2.8条，1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0106第2.8条,1101~1102第2.9条，1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0106第2.8条,1101~1102第2.9条，1103

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1，1008.1

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1005.1,

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2009.1,方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2009.1,方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2009.1,方法

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法2009.1,方法

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.14,4.5.15

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法208,方法210

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法208,方法

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法208,方法210

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法208,方法

射频固定和可变片式电感器通用规范GJB 1864A-2011 4.5.11,4.5.12

射频固定和可变片式电感器通用规范 GJB 1864A-2011 4.5.11,

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.6,4.5.13

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范 GJB 192B-2011 4.5.10,

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.9,4.6.22

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998 4.6.9,

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.6,4.5.14

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.10,4.6.21

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018 4.6.10,

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.12,4.7.8

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999 4.7.12,

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.12,4.5.8

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.12,4.5.8

压敏电阻器总规范GJB 1782-1993 4.6.9,4.6.10

压敏电阻器总规范 GJB 1782-1993 4.6.9,

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.9,4.5.10

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015 4.5.9,

热敏电阻器总规范GJB 601A-1998 4.6.14,4.6.24

热敏电阻器总规范 GJB 601A-1998 4.6.14,4.6.24,

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.19,4.5.18,4.5.10

膜固定电阻网络、膜固定电阻和陶瓷电容的阻容网络通用规范 GJB 920A-2002 4.5.19,

军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB 4027A-2006 项目0100～1600

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目0101~0106第2.2条,0201~0210第2.2条,0401第2.2条,0801~0803第2.2条,1101~1103

军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB 4027B-2021 项目0100～1600

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目0101~0106第2.2条,0201~0210第2.2条,0401第2.2条,0801~0803第2.2条,1101~1104

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1101~1103第2.3条,0105第2.3条,0207第2.3条,0401第2.4条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 工作项目1101~1103第2.3条,0105第2.3条,0207第2.3条,0401第2.4条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1104第2.4条,0105第2.4条,0207第2.4条,0401第2.5条,0801~0802

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1104第2.4条,0105第2.4条,0207第2.4条,0401第2.5条,0801~0802

热敏电阻器通用规范GJB 601B-2018 4.6.15,4.6.26

热敏电阻器通用规范 GJB 601B-2018 4.6.15,

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1102第2.11条,1104

军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027B-2021 工作项目1101~1102第2.11条,1104

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范GJB 1432A-1999 4.7.7,4.7.11

有可靠性指标的片式膜固定电阻器总规范 GJB 1432A-1999 4.7.7,

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432B-2009 4.5.7,4.5.11

片式膜固定电阻器通用规范 GJB 1432C-2021 4.5.7,4.5.11

压敏电阻器通用规范GJB 1782A-2015 4.5.22,4.5.23

压敏电阻器通用规范 GJB 1782A-2015 4.5.22,

微电子器件试验方法和程序 GJB 548C-2021 方法1005.1,1008.1

电子及电气元件试验方法GJB 360A-1996 方法201,方法204,方法214

电子及电气元件试验方法 GJB 360A-1996 方法201,方法204,方法

电子及电气元件试验方法GJB 360B-2009 方法201,方法204,方法214

电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法201,方法204,方法