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能力范围

按“GB/T17574-1998”筛选，展示 24 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。

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GB/T17574-1998

半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇第2节

10 项检测项目

检测项目：输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>、静态条件下的电源电流等 10 项，点击展开全部

检测对象：半导体集成电路TTL电路

输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出短路电流I<Sub>OS</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流

检测对象：半导体集成电路CMOS电路

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>静态条件下的电源电流

检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器

输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>动态条件下的总电源电流静态工作电源电流

检测对象：半导体集成电路模拟开关

输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>静态工作电源电流