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2026-05-12
按“U”筛选，展示 29 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
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QJ 2491-1993
半导体集成电路运算放大器测试方法 第5.1节
检测项目：输入失调电压V<Sub>IO</Sub>、输入失调电流I<Sub>IO</Sub>、输入偏置电流I<Sub>IB</Sub>、静态功耗P<Sub>D</Sub>、开环电压增益A<Sub>VD</Sub>、共模抑制比K<Sub>CMR</Sub>、电源电压抑制比K<Sub>SVR</Sub>、输出峰-峰电压V<Sub>opp</Sub> 等 9 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路运算（电压）放大器
半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路第Ⅳ篇 第2节
检测项目：输入钳位电压V<Sub>IK</Sub>、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>、输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>、输出短路电流I<Sub>OS</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZ</Sub>
检测对象：半导体集成电路TTL电路
检测对象：半导体集成电路CMOS电路
检测对象：半导体集成电路MOS随机存储器
检测对象：半导体集成电路模拟开关
半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 第5.2节
检测项目：导通电阻R<Sub>on</Sub>
检测对象：半导体集成电路模拟开关