北京元六鸿远电子科技股份有限公司实验室

GJB548C-2021

微电子器件试验方法和程序 方法2004.3 试验条件A,B1,B2,D

GJB128B-2021

半导体分立器件试验方法 方法

GJB1518A-2015

射频干扰滤波器通用规范

GJB360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

GJB4157A-2011

高可靠瓷介固定电容器通用规范

GJB192B-2011

有失效率等级的无包封多层片式瓷介固定电容器通用规范

GJB468A-2011

1类瓷介固定电容器通用规范

GJB924A-2012

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高压多层瓷介固定电容器通用规范

GJB6788-2009

含宇航级的多芯组瓷介固定电容器通用规范

电子设备用固定电容器 第1 部分：总规范

电子设备用固定电容器 第8 部分：分规范 1 类瓷介固定电容器

电子设备用固定电容器 第9 部分：分规范 2 类瓷介固定电容器

电子设备用固定电容器 第 21 部分：分规范 表面安装用 1 类多层瓷介固定电容器

电子设备用固定电容器 第 22 部分：分规范 表面安装用 2 类多层瓷介固定电容器