当前查看：昆山北测检测技术有限公司
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数据更新时间
2026-05-12
按“芯片”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
MIL-STD-883K NOTICE 2-CHANGE 3：2018 方法2019
微电路试验方法标准 方法
检测项目：芯片剪切
检测对象：电子器件
MIL-STD-750-2B :2022
半导体分立器件物理性能试验 第二部分 方法