国标GB/T 4937-1995现行有效

GB/T 4937-1995 半导体器件机械和气候试验方法标准解读与检测实验室查询

常见检测项目包括 内部易燃、快速温度变化、循环湿热、稳态湿热、高温贮存、密封、恒定加速度、温度变化（D）继之密封、冲击（D）振动、冲击（D）或振动 等，具体以各实验室能力范围为准。

常见适用产品 / 检测对象包括 电子元器件通用电子产品、双极型晶体管、半导体器件、普通晶闸管、快速晶闸管、普通整流管、机电设备及电子产品、电子元器件、塑封半导体集成电路、电工电子产品 等。

已收录 11 家具备「GB/T 4937-1995」检测能力的 CNAS/CMA 实验室，覆盖 22 个检测项目、11 类适用产品。做检测，上我来检。

标准核心信息

标准编号

GB/T 4937-1995

标准类型

国标

标准状态

现行有效

具备能力实验室

11 家（CNAS 10 / CMA 0）

标准名称

半导体器件机械和气候试验方法

我来检已收录 11 家具备「GB/T 4937-1995」（半导体器件机械和气候试验方法）检测能力的 CNAS/CMA 实验室，可在线查询机构与能力范围，或提交需求由我来检协助匹配并给出报价建议。

常见检测项目包括内部易燃、快速温度变化、循环湿热、稳态湿热、高温贮存、密封、恒定加速度、温度变化（D）继之密封、冲击（D）振动、冲击（D）或振动等，具体以各实验室能力范围为准。

常见适用产品 / 检测对象包括电子元器件通用电子产品、双极型晶体管、半导体器件、普通晶闸管、快速晶闸管、普通整流管、机电设备及电子产品、电子元器件、塑封半导体集成电路、电工电子产品等。

GB/T 4937-1995 即《半导体器件机械和气候试验方法》，属于国标，当前状态：现行有效。标准全文以官方发布为准。