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行业标准GJB 8153-2013现行有效
GJB 8153-2013 大口径平面光学元件面形测量方法 菲索干涉法 标准解读与检测实验室查询
已收录 3 家具备「GJB 8153-2013」检测能力的 CNAS/CMA 实验室，覆盖 3 个检测项目、3 类适用产品。做检测，上我来检。
标准核心信息
标准编号
GJB 8153-2013
标准类型
行业标准
标准状态
现行有效
具备能力实验室
3 家（CNAS 3 / CMA 0）
标准名称
大口径平面光学元件面形测量方法 菲索干涉法
具备该标准检测能力的实验室
查看全部 3 家 →常见问题
哪里可以做 GJB 8153-2013 检测？
我来检已收录 3 家具备「GJB 8153-2013」（大口径平面光学元件面形测量方法 菲索干涉法）检测能力的 CNAS/CMA 实验室，可在线查询机构与能力范围，或提交需求由我来检协助匹配并给出报价建议。
GJB 8153-2013 涉及哪些检测项目？
常见检测项目包括 波面误差、平面面形、面形 等，具体以各实验室能力范围为准。
GJB 8153-2013 适用于哪些产品 / 检测对象？
常见适用产品 / 检测对象包括 光学材料及元件、光学元件及材料、平面光学元件 等。
GJB 8153-2013 是什么标准？
GJB 8153-2013 即《大口径平面光学元件面形测量方法 菲索干涉法》，属于行业标准，当前状态：现行有效。标准全文以官方发布为准。