GB/T 11067-2006《银化学分析方法硒和碲量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》检测标准解读

GB/T 11067-2006《银化学分析方法硒和碲量的测定电感耦合等离子体原子发射光谱法》标准基本信息

适用产品

超高纯银制品（如电子级银靶材、科研用高纯银样品）

标准说明

本标准规定了银中硒和碲的测定方法，采用电感耦合等离子体原子发射光谱法，解决超高纯银中痕量杂质检测精度不足的问题。适用于银含量≥99.999%的银产品，检测灵敏度高（检出限低至0.00001%-0.00005%），为半导体、精密电子领域银产品的质量验收、贸易结算提供技术依据，是银加工企业合规生产的核心标准之一。

主要检测项目

检测周期和费用参考

报告类型及资质说明

CMA+CNAS双认证报告，具备法律效力，可用于产品质量检测、市场准入、国际贸易验证，支持国际互认

检测流程

常见问题

GB/T 11067-2006适用于哪些银产品检测？半导体厂需要做吗？

GB/T 11067-2006适用于超高纯银制品，如电子级银靶材、科研用高纯银样品，半导体厂生产银制品、采购银原料时必须按此标准检测，确保杂质含量符合国标要求。

GB/T 11067-2006检测对样品状态有要求吗？表面氧化影响结果吗？

要求样品为块状（厚度≥2mm，面积≥10mm×10mm），表面需无氧化层、油污，否则会导致检测结果偏差超过5%。

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免责声明

本文内容用于检测知识整理和实验室能力查询指引，具体标准文本、适用范围和资质能力以官方发布文件及实验室最新能力范围为准。