电子电器国标GB/T 15651.3-2003
GB/T 15651.3-2003《半导体器件分立器件和集成电路第部分光电子器件测试方法》检测标准解读
做检测，上我来检。本文介绍GB/T 15651.3-2003《半导体器件分立器件和集成电路第部分光电子器件测试方法》的标准信息、适用产品、检测项目、检测周期、费用参考及实验室能力查询入口，适用产品包括电子产品及部件（如电子元件、电器设备、电路板、芯片、电子传感器、挠性印制板、电子连接器），涉及1. 电气性能测试（绝缘电阻、耐电压、接地电阻，按GB/T 156