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2026-05-12
按“电路”筛选，展示 500 条相关能力（共 604 条，已先展示前 500 条）（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 119 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 Ⅳ
检测项目：电源电流、小信号输入阻抗、输出阻抗、输入失调电压、偏置电压、输入失调电流、输入偏置电流、输入失调电压温度系数 等 37 项，点击展开全部
检测对象：模拟集成电路
SJ 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：失调误差、失调误差温度系数、增益误差、增益误差温度系数、零点误差、零点误差温度系数、线性误差、线性误差温度系数 等 31 项，点击展开全部
检测对象：集成电路A/D和D/A转换器
SJ-T 13656-2005
JS-1 集成电路卡模块技术规范
检测项目：模塑料x轴长、模塑料y轴长、模块厚度、引线框架厚度、模块包封部分与引线框架的粘合强度、点压力、动态弯曲、动态扭曲 等 22 项，点击展开全部
检测对象：JS-1集成电路卡及模块
半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 Ⅳ 第2节
检测项目：输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、输出短路电流、静态条件下的电源电流、滞后电压、输入嵌位电压 等 20 项，点击展开全部
检测对象：数字集成电路
集成电路 模拟数字、数字模拟转换器测试方法
检测项目：信噪失真比、信噪比、功耗、双音交调失真、增益误差、增益误差温度系数、失码、失调误差 等 20 项，点击展开全部
检测对象：集成电路A/D和D/A转换器
CJ/T 243-2016
建设事业集成电路(IC)卡产品检测
检测项目：传输协议、物理特性、电气特性、初始化和防冲突、剥离、功能检测、半双工块传输协议、卡片粘性 等 20 项，点击展开全部
检测对象：建设事业IC卡（双界面卡）
检测对象：建设事业IC卡（非接触式IC卡）
SJ20646-1997
混合集成电路DC/DC变换器测试方法
检测项目：输出电压、输出电流、输出纹波电压、电压调整率、电流调整率、输入电流、输出电压温度系数、效率 等 16 项，点击展开全部
检测对象：DC/DC变换器
AEC-Q100-Rev-H：2014
基于集成电路失效机理的应力测试认证要求
检测项目：高温寿命试验、预处理、有偏压高加速应力试验、有偏压温湿度试验、无偏高压蒸煮、无偏压高加速应力试验、无偏压温湿度试验、温度循环 等 13 项，点击展开全部
检测对象：汽车电子集成电路
AEC-Q100-Rev-J：2023
基于集成电路失效机理的应力测试认证要求 表2 第A5项
检测项目：功率温度循环试验、无偏压温湿度试验、无偏压高加速应力试验、无偏高压蒸煮试验、有偏压温湿度试验、有偏压高加速应力试验、温度循环试验、非易失性存储器工作寿命试验 等 13 项，点击展开全部
检测对象：汽车电子集成电路
识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡及其相关接口设备
检测项目：静电、触点的尺寸、数量和位置、触点表面电阻、触点的表面轮廓、机械强度、供电触点(VCC)、输入输出触点(I/O)、时钟触点(CLK) 等 11 项，点击展开全部
检测对象：识别卡
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 14443-1: 2000
识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变电场、交变磁场、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、工作温度、紫外线、静电、静磁场 等 9 项，点击展开全部
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
检测对象：识别卡
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变电场、卡的尺寸、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、紫外线、静磁场、工作温度、静电 等 9 项，点击展开全部
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
检测对象：识别卡
ISO/IEC 15693-1: 2000
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变电场、交变磁场、动态弯曲应力（弯曲特性）、动态扭曲应力（扭曲特性）、工作温度、紫外线、静电、静磁场 等 9 项，点击展开全部
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
检测对象：识别卡
SJ/T 11508-2015
集成电路用 正胶显影液
检测项目：主成分含量、外观、色度、颗粒浓度、氯化物浓度、碳酸盐浓度、磷酸盐浓度、氟硅酸盐浓度 等 9 项，点击展开全部
检测对象：正胶显影液
SJ/T 11507-2015
集成电路用 氧化层缓冲腐蚀液
检测项目：主成分含量、外观、色度、颗粒浓度、氯化物浓度、硫酸盐浓度、磷酸盐浓度、氟硅酸盐浓度 等 9 项，点击展开全部
检测对象：氧化层缓冲腐蚀液
识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分：物理特性
检测项目：动态扭曲应力（扭曲特性）、紫外线、静磁场、工作温度、静电、触点表面电阻、触点的表面轮廓、机械强度
检测对象：识别卡
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
GPC_GUI_010
全球平台卡 通用集成电路卡配置 版本1.0.1
检测项目：APDU命令、委托管理、安全通道秘钥的保密设置、控制机构安全域(CASD)、数据要求、秘钥使用、通用集成电路卡安全策略
检测对象：Java卡
GPC_GUI_035
全球平台卡 通用集成电路卡 配置—非接触扩展 版本1.0
检测项目：安全域APDU命令、应用选择、用户交互管理、通信接口访问配置、非接触协议管理、非接触接口上的应用可用性、非接触特权
检测对象：Java卡
SJ/T 11506-2015
集成电路用铝腐蚀液
检测项目：外观、酸度、密度、颗粒浓度、氯化物浓度、硫酸盐浓度、杂质元素含量
检测对象：铝腐蚀液
ISO/IEC 10373-3: 2018
识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡和相关接口设备
检测项目：供电触点(VCC)、协议、复位应答、复位触点(RST)、时钟触点(CLK)、输入输出触点(I/O)
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
识别卡 集成电路卡 第3部分：带触点的卡 电接口和传输协议
检测项目：供电触点(VCC)、协议、复位应答、复位触点(RST)、时钟触点(CLK)、输入输出触点(I/O)
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
微波电路放大器测试方法
检测项目：输入回波损耗和输入电压驻波比、输出回波损耗和输出电压驻波比、反向隔离度、功率附加效率、群延迟时间、噪声系数（NF）
检测对象：固态微波功率器件（300kHz～110GHz）
ISO/IEC 10373-3: 2010
识别卡 测试方法 第3部分：带触点的集成电路卡和相关接口设备
检测项目：供电触点(VCC)、输入输出触点(I/O)、时钟触点(CLK)、复位触点(RST)、复位应答、协议
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
识别卡 带触点的集成电路卡 第3部分：电信号和传输协议
检测项目：供电触点(VCC)、输入输出触点(I/O)、时钟触点(CLK)、复位触点(RST)、复位应答、协议
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 7816-3: 2006
识别卡 集成电路卡 第3部分：带触点的卡-电信号和传输协议
检测项目：供电触点(VCC)、输入输出触点(I/O)、时钟触点(CLK)、复位触点(RST)、复位应答、协议
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
半导体集成电路 电压调整器测试方法
检测项目：电压调整率、电流调整率、纹波抑制比、输出电压温度系数、基准电压
检测对象：集成电路(模拟电路)
SJ20645-1997
微波电路放大器测试方法
检测项目：输出功率、功率增益、功率增益平坦度、1dB压缩点输出功率、1dB压缩点功率增益
检测对象：固态微波功率器件（100MHz～18GHz）
半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管
检测项目：热性能(二极管热阻）、正向电压、反向电漏流、反向击穿电压
检测对象：电子元器件通用电子产品
检测对象：二极管
IEC 62228-2:2016
集成电路 收发器的EMC评估 第2部分：LIN收发器
检测项目：150Ω直接耦合法传导发射、直接射频注入法传导抗扰度、车辆瞬态干扰脉冲抗扰度、静电放电抗扰度
检测对象：集成电路
IEC 62228-3:2019
集成电路 收发器的EMC评估 第3部分：CAN收发器
检测项目：150Ω直接耦合法传导发射、直接射频注入法传导抗扰度、车辆瞬态干扰脉冲抗扰度、静电放电抗扰度
检测对象：集成电路
CJ/T 243-2007
建设事业集成电路(IC)卡产品检测 5.2表2-
检测项目：交变电场、交变磁场、弯曲应力
检测对象：建设事业IC卡（非接触式IC卡）
检测对象：建设事业IC卡（接触式IC卡）
ISO/IEC 7816-1: 2011
识别卡 带触点的集成电路卡 第1部分：物理特性
检测项目：触点表面电阻、触点的表面轮廓、机械强度
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
SGP.02 V3.2
嵌入式通用集成电路卡远程供应体系结构:嵌入式通用集成电路卡技术规范 2.4,
检测项目：接口符合性测试、系统表现测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
SGP.11 V3.3
嵌入式通用集成电路卡远程供应体系结构:嵌入式通用集成电路卡测试规范
检测项目：接口符合性测试、系统表现测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
GPC eUICC v3.2 Card TestPlan 2.2.0
通用集成电路卡 v3.2 M2M卡符合性测试计划 附录A
检测项目：接口符合性测试、系统表现测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
MIL-STD-883-1 w/CHANGE 2-2024
微电路环境试验方法 第1部分：方法1000-1999
检测项目：内部气体成份分析、密封
检测对象：电子元器件通用电子产品
SA PP TS V2.1
嵌入式通用集成电路卡文件包:可互操作格式技术规范 全项
检测项目：SIMAlIiance互操作格式测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
SIMAlliance eUICC Profile Package: Interoperable Format Test Specification V2.1.2
嵌入式通用集成电路卡文件包:可互操作格式测试规范 全项
检测项目：SIMAlIiance互操作格式测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
GJB4027A-2006
军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目1103 2.4（塑封电路）
检测项目：超声检测
检测对象：电子元器件通用电子产品
MIL-STD-883-2 w/CHANGE1-2022
微电路机械试验方法 第2部分：方法2000-2999
检测项目：键合强度
检测对象：电子元器件通用电子产品
SJ10745-1996
半导体集成电路机械和气候试验方法
检测项目：强加速稳态湿热（高压蒸汽）
检测对象：电子元器件通用电子产品
半导体集成电路机械和气候试验方法 Ⅳ
检测项目：内部易燃
检测对象：电子元器件通用电子产品
识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分：触点的尺寸和位置 4,
检测项目：触点的尺寸、数量和位置
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 7810: 2019/ Amd.1: 2024
识别卡 物理特性 补篇1 带触点的集成电路卡的其它要求
检测项目：触点的表面轮廓
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
SAE J1752-3：2017
集成电路辐射发射测量方法——TEM/宽带TEM(GTEM)小室法;TEM小室（150kHz~1GHz),宽带TEM小室法（150kHz~8GHz)
检测项目：辐射发射测量—TEM小室法
检测对象：集成电路
GJB 10163-2021
塑封集成电路的潮湿敏感度分级试验方法
检测项目：潮湿敏感度分级
检测对象：电子元器件通用电子产品
SJ21147.4-2016
军用集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：传导发射
检测对象：集成电路
IEC61967-4:2002
集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：传导发射
检测对象：集成电路
IEC61967-4:2006
集成电路电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：传导发射
检测对象：集成电路
IEC61967-4:2021
集成电路 电磁发射测量方法 第4部分:传导发射测量—1Ω/150Ω直接耦合法
检测项目：传导发射
检测对象：集成电路
SJ21473.3-2018
军用集成电路电磁抗扰度测量方法第 3 部分:传导抗扰度测量—大电流注入（BCI）法
检测项目：传导抗扰度测量方法—大电流注入法
检测对象：集成电路
IEC62132-3:2007
集成电路电磁抗扰度测量方法第 3 部分:传导抗扰度测量—大电流注入（BCI）法
检测项目：传导抗扰度测量方法—大电流注入法
检测对象：集成电路
SJ21473.4-2018
军用集成电路电磁抗扰度测量方法第 4 部分:传导抗扰度测量—射频功率直接注入法
检测项目：传导抗扰度测量方法—射频功率注入法
检测对象：集成电路
IEC62132-4:2006
集成电路电磁抗扰度测量方法第 4 部分:传导抗扰度测量—射频功率直接注入法
检测项目：传导抗扰度测量方法—射频功率注入法
检测对象：集成电路
IEC/TS62215-2:2007
集成电路 脉冲抗扰度测量方法—同步瞬态注入法
检测项目：同步瞬态注入法
检测对象：集成电路
SJ21147.2-2016
军用集成电路电磁发射测量方法第2部分:辐射发射测量—TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：辐射发射
检测对象：集成电路
IEC61967-2:2005
集成电路电磁发射测量方法第2部分:辐射发射测量—TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：辐射发射
检测对象：集成电路
IEC61967-8:2011
集成电路电磁发射测量方法 第8部分:辐射发射测量—IC带状线法
检测项目：辐射发射
检测对象：集成电路
SJ21473.2-2018
军用集成电路电磁抗扰度测量方法 第2部分:辐射抗扰度测量—TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：辐射抗扰度
检测对象：集成电路
IEC62132-2:2010
集成电路电磁抗扰度测量方法 第2部分:辐射抗扰度测量—TEM小室和宽带TEM小室法
检测项目：辐射抗扰度
检测对象：集成电路
IEC62132-8:2012
集成电路电磁抗扰度测量方法 第8部分:辐射抗扰度测量—IC带状线法
检测项目：辐射抗扰度
检测对象：集成电路
IEC62215-3:2013
集成电路 脉冲抗扰度测量方法—非同步瞬态注入法
检测项目：非同步瞬态注入法
检测对象：集成电路
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
检测项目：脉冲抗扰度
检测对象：集成电路
IEC TS 61967-3:2014
集成电路 电磁发射测量 第3部分：辐射发射测量 表面扫描法
检测项目：辐射发射测量 表面扫描法
检测对象：集成电路
IEC 61967-8:2023
集成电路 电磁发射测量 第8部分：辐射发射测量 带状法
检测项目：辐射发射测量—带状线法
检测对象：集成电路
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
检测项目：辐射抗扰度测量—带状线法
检测对象：集成电路
集成电路 电磁发射测量 第4部分:传导发射测量 1Ω/150Ω直接耦合法 全文
检测项目：1Ω/150Ω直接耦合法传导发射
检测对象：集成电路
集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分:射频功率直接注入法 全文
检测项目：直接射频注入法传导抗扰度
检测对象：集成电路
GB/T 43034.2-2024
集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分:同步瞬态注入法 全文
检测项目：脉冲抗扰度
检测对象：集成电路
集成电路 电磁抗扰度测量 第2部分:辐射抗扰度测量 TEM 小室和宽带TEM 小室法 全文
检测项目：辐射抗扰度
检测对象：集成电路
识别卡 带触点的集成电路卡 第2部分：触点的尺寸和位置 3，
检测项目：触点的尺寸、数量和位置
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 7816-2: 2007
识别卡 集成电路卡 第2部分：带触点的卡-触点的尺寸和位置 3，
检测项目：触点的尺寸、数量和位置
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 14443-1: 2016
识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变磁场
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 14443-2: 2016
识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第2部分：射频功率和信号接口 5、6、7、8、
检测项目：射频功率和信号接口
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 14443-3: 2016
识别卡 无触点集成电路卡 接近式卡 第3部分：初始化和防冲突 5、6、
检测项目：初始化和防冲突
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 15693-1: 2010
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第1部分：物理特性
检测项目：交变磁场
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第2部分：空中接口和初始化 5、6、7、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 15693-2: 2006
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第2部分：空中接口和初始化 5、6、7、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第3部分：防冲突和传输协议 5、6、7、8、9、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 15693-3: 2009
识别卡 无触点集成电路卡 邻近式卡 第3部分：防冲突和传输协议 5、6、7、8、9、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 10373-1: 2020
卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分：一般特性
检测项目：机械强度、触点的尺寸、数量和位置、触点表面电阻、触点的表面轮廓
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
卡及身份识别安全设备 测试方法 第1部分：一般特性
检测项目：机械强度、触点的尺寸、数量和位置、触点的表面轮廓、触点表面电阻
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
信息技术设备 安全 第1部分：通用要求
检测项目：SELV电路、TNV电路、限流电路
检测对象：信息技术设备
音频视频、信息和通信技术设备 第1部分 安全要求 附录M
检测项目：带电池组及其保护电路的设备、预定与建筑物配线互连的电路、确定与不超过420V峰值（300V有效值）的交流电网电源连接的电路中的绝缘的电气间隙的替代方法
检测对象：音频视频、信息和通信技术设备
IEC 62368-1：2018
音频视频、信息和通信技术设备 第1部分 安全要求 附录M
检测项目：带电池组及其保护电路的设备、预定与建筑物配线互连的电路、确定与不超过420V峰值（300V有效值）的交流电网电源连接的电路中的绝缘的电气间隙的替代方法
检测对象：音频视频、信息和通信技术设备
AEC-Q100-005-Rev-D1
非易失性存储器/擦耐久性,数据保留和工作寿命试验
检测项目：非易失性存储器擦除耐久性、非易失性存储器数据保持、非易失性存储器工作寿命
检测对象：汽车电子集成电路
ISO/IEC 10373-6: 2020
卡及身份识别安全设备 测试方法 第6部分：无触点接近式对象
检测项目：交变磁场、初始化和防冲突、射频功率和信号接口
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
SGP.22 V2.2.1
远程用户身份识别卡技术规范 2,
检测项目：接口符合性测试、系统表现测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
SGP.23 V1.4
远程用户身份识别卡测试规范
检测项目：接口符合性测试、系统表现测试
检测对象：嵌入式通用集成电路卡(eUICC)
JESD22-A101D.01:2021
稳态温度湿度偏置寿命试验
检测项目：有偏压温湿度试验、无偏压温湿度试验
检测对象：汽车电子集成电路
识别卡 物理特性
检测项目：机械强度、触点表面电阻
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
ISO/IEC 7810: 2019
识别卡 物理特性
检测项目：机械强度、触点表面电阻
检测对象：带触点的集成电路卡及其接口设备
识别卡 测试方法 第7部：邻近式卡
检测项目：功能测试、工作场强
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
家用和类似用途电器的安全 电池充电器的特殊要求
检测项目：变压器和相关电路的过载保护
检测对象：电池充电器
测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分：通用要求 附录A
检测项目：测试电路
检测对象：测量、控制和试验室用电气设备
JESD22-A108F：2017
高温寿命试验 表2 HTOL
检测项目：高温寿命试验
检测对象：汽车电子集成电路
AEC-Q100-008-Rev-A：2003
早期失效率
检测项目：高温寿命试验
检测对象：汽车电子集成电路
JEDEC J-STD-020E:2014
非密封固态表面贴装组件的湿度/回流焊敏感性分类
检测项目：预处理
检测对象：汽车电子集成电路
JESD22-A113I:2020
预处理
检测项目：预处理
检测对象：汽车电子集成电路
JESD22-A110E:2015
高加速温湿度应力试验（HAST）
检测项目：有偏压高加速应力试验
检测对象：汽车电子集成电路
JESD22-A102E:2015
加速抗潮湿高压锅试验
检测项目：无偏高压蒸煮
检测对象：汽车电子集成电路
JESD22-A118B:2015
加速防潮-无偏HAST
检测项目：无偏压高加速应力试验
检测对象：汽车电子集成电路
JESD22-A104F:2020
温度循环
检测项目：温度循环
检测对象：汽车电子集成电路
EN61010-1:2001
测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分：通用要求 附录A
检测项目：测试电路
检测对象：测量、控制和试验室用电气设备
IEC61010-1:2001
测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分：通用要求 附录A
检测项目：测试电路
检测对象：测量、控制和试验室用电气设备
家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求
检测项目：变压器和相关电路的过载保护
检测对象：家用和类似用途电器
JESD22-A105D:2020
功率温度循环
检测项目：功率温度循环
检测对象：汽车电子集成电路
JESD22-A103E:2015
高温贮存寿命
检测项目：高温贮存寿命
检测对象：汽车电子集成电路
GB/T 42756.1-2023
卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第1部分:物理特性
检测项目：交变磁场
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 14443-1:2018
卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第1部分：物理特性
检测项目：交变磁场
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
GB/T 42756.3-2023
卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第 3 部分:初始化和防冲突 5、6、7、
检测项目：初始化和防冲突
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 14443-3:2018
卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第3部分：初始化和防冲突 5、6、7、
检测项目：初始化和防冲突
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
GB/T 42756.2-2023
卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第 2 部分:射频功率和信号接口 5、6、7、8、9、
检测项目：射频功率和信号接口
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 14443-2:2020
卡及身份识别安全设备 无触点接近式对象 第2部分：射频功率与信号接口 5、6、7、8、9、
检测项目：射频功率和信号接口
检测对象：无触点的集成电路卡——接近式卡及机具
ISO/IEC 15693-1：2018
卡及身份识别安全设备 无触点邻近式对象 第1部分：物理特性
检测项目：交变磁场
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 15693-2：2019
卡及身份识别安全设备 无触点邻近式对象 第2部分：空中接口和 初始化 5、6、7、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 15693-3：2019
卡及身份识别安全设备 无触点邻近式对象 第3部分：防冲突和传输协议 5、6、7、8、9、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 10373-7:2019
卡及身份识别安全设备 测试方法 第7部分：无触点邻近式对象 7、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具
ISO/IEC 10373-7:2008
识别卡 测试方法 第7部分：邻近式卡 7、
检测项目：功能测试
检测对象：无触点的集成电路卡——邻近式卡及机具