北京振兴计量测试研究所

能力范围

按“GB/T 36477-2018”筛选，展示 11 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。

按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。

GB/T36477-2018

半导体器件快闪存储器测试方法

11 项检测项目

检测项目：输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压<I>V</I><Sub>OL</Sub>、输入高电平电压<I>V</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电压<I>V</I><Sub>IL</Sub>、输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>、输出高电平电流<I>I</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电流<I>I</I><Sub>OL</Sub> 等 11 项，点击展开全部

检测对象：FLASH存储器

输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>输出低电平电压<I>V</I><Sub>OL</Sub>输入高电平电压<I>V</I><Sub>IH</Sub>输入低电平电压<I>V</I><Sub>IL</Sub>输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>输出高电平电流<I>I</I><Sub>OH</Sub>输出低电平电流<I>I</I><Sub>OL</Sub>输出高阻态电流电源电流功能测试