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国标GB/T36477-2018现行有效

GB/T36477-2018 半导体器件 快闪存储器测试方法 5.1 标准解读与检测实验室查询

已收录 12 家具备「GB/T36477-2018」检测能力的 CNAS/CMA 实验室，覆盖 24 个检测项目、7 类适用产品。做检测，上我来检。

标准核心信息

标准编号

GB/T36477-2018

标准类型

国标

标准状态

现行有效

具备能力实验室

12 家（CNAS 3 / CMA 0）

标准名称

半导体器件 快闪存储器测试方法 5.1

具备该标准检测能力的实验室

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该标准涉及的主要检测项目

输出高电平电压和输出低电平电压输入高电平电压和输入低电平电压输出高电平电流和输出低电平电流建立时间和保持时间存储单元0变1功能存储单元1变0功能特殊数据图形功能输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub>输出高阻态时低电平电流I<Sub>OZL</Sub>输入高电平电流I<Sub>IH</Sub>输入低电平电流I<Sub>IL</Sub>动态条件下的总电源电流输出高电平电压输出低电平电压输出高阻态时高电平电流输出高阻态时低电平电流输入高电平电流输入低电平电流输出漏电流动态电源电流静态电源电流输入低电平

适用产品 / 检测对象

快闪存储器半导体器件集成电路存储器半导体集成电路快闪存储器集成电路快闪（FLASH）存储器FLASH存储器数字集成电路

常见问题

哪里可以做 GB/T36477-2018 检测？

我来检已收录 12 家具备「GB/T36477-2018」（半导体器件 快闪存储器测试方法 5.1）检测能力的 CNAS/CMA 实验室，可在线查询机构与能力范围，或提交需求由我来检协助匹配并给出报价建议。

GB/T36477-2018 涉及哪些检测项目？

常见检测项目包括 输出高电平电压和输出低电平电压、输入高电平电压和输入低电平电压、输出高电平电流和输出低电平电流、建立时间和保持时间、存储单元0变1功能、存储单元1变0功能、特殊数据图形功能、输出高电平电压V<Sub>OH</Sub>、输出低电平电压V<Sub>OL</Sub>、输出高阻态电流I<Sub>OZH</Sub> 等，具体以各实验室能力范围为准。

GB/T36477-2018 适用于哪些产品 / 检测对象？

常见适用产品 / 检测对象包括 快闪存储器、半导体器件集成电路存储器、半导体集成电路快闪存储器、集成电路、快闪（FLASH）存储器、FLASH存储器、数字集成电路 等。

GB/T36477-2018 是什么标准？

GB/T36477-2018 即《半导体器件 快闪存储器测试方法 5.1》，属于国标，当前状态：现行有效。标准全文以官方发布为准。