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数据更新时间
2026-05-12
已按“GJB 2340A-2021”定位到该机构。登录后查看该机构与关键词匹配的能力明细,也可以留下需求让工程师帮您确认。
能力摘要
来自该机构公开能力范围。
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027B-2021 工作项目0103第2.2条
军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027A-2006 工作项目0103第2.2条
半导体集成电路PWM控制器测试方法 GB/T43061-2023 5.1.1
半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000 第Ⅳ篇第三节 2
电工电子产品环境试验设备检验方法 第5部分:湿热试验设备 GB/T 5170.5-2016 8.1
半导体集成电路 驱动器测试 GB/T42975-2023 5.13
微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996 方法1001
半导体器件 快闪存储器测试方法 GB/T36477-2018 5.1
北京振兴计量测试研究所已整理公开能力范围,可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 GJB4027B-2021、GJB4027A-2006、GB/T43061-2023、GB/T 17940-2000、GB/T 5170.5-2016、GB/T42975-2023 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 电子元器件(试验)、半导体集成电路PWM控制器、固定电容器、晶体振荡器、大气参数测试仪、密封半导体集成电路、模拟集成电路、混合集成电路(含多芯片组件) 等,具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途,需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告;报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
能力明细已保护
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检测对象、检测项目、标准依据等明细已隐藏
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