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数据更新时间
2026-05-12
按“H”筛选，展示 49 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 13 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
Q/Hj304.2375-2021
大气参数测试仪检测方法
检测项目：静压、总压、动压、高度、指示空速、真空速、爬升率、马赫数
检测对象：大气参数测试仪
HB6127-1986
飞行大气参数 表
检测项目：动压、高度、指示空速、真空速、马赫数
检测对象：大气参数测试仪
HB6127-8196
飞行大气参数 HB6127-1986 表
检测项目：静压
检测对象：大气参数测试仪
HB6127-86
飞行大气参数 表
检测项目：总压
检测对象：大气参数测试仪
半导体器件 快闪存储器测试方法
检测项目：输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电压<I>V</I><Sub>OL</Sub>、输入高电平电压<I>V</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电压<I>V</I><Sub>IL</Sub>、输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输入低电平电流<I>I</I><Sub>IL</Sub>、输出高电平电流<I>I</I><Sub>OH</Sub>、输出低电平电流<I>I</I><Sub>OL</Sub> 等 11 项，点击展开全部
检测对象：FLASH存储器
GB/T43061-2023
半导体集成电路PWM控制器测试方法
检测项目：同步阈值电压<I>V</I><Sub>THsync</Sub>、输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、零占空比阈值电压<I>V</I><Sub>THzq</Sub>、最大占空比阈值电压<I>V</I><Sub>THmq</Sub>、输出高电平电压<I>V</I><Sub>OHdrv</Sub>、充电电流<I>I</I><Sub>CHG</Sub>、关断阈值电压<I>V</I><Sub>THsd</Sub>
检测对象：半导体集成电路PWM控制器
半导体器件 集成电路 第2部分数字集成电路 第Ⅳ篇第二节
检测项目：输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输出高阻态时高电平电流<I>I</I><Sub>OZH</Sub>
检测对象：数字集成电路
GB/T42975-2023
半导体集成电路驱动器测试方法
检测项目：输入高电平电压<I>V</I><Sub>IH</Sub>、输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>、输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>
检测对象：半导体集成电路 驱动器
GJB 151B-2013
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目：25Hz～150kHz电源线传导敏感度CS101、4kHz～400MHz电缆束注入传导敏感度、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
GJB151C-2024
军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求与测量
检测项目：25Hz～150kHz电源线传导敏感度CS101、4kHz～400MHz电缆束注入传导敏感度、10kHz～100MHz电缆和电源线阻尼正弦瞬态传导敏感度
检测对象：专用设备和分系统
SJ/T 20961-2006
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理
检测项目：输出高电平电压<I>V</I><Sub>OH</Sub>、输入高电平电流<I>I</I><Sub>IH</Sub>
检测对象：A/D和D/A转换器
半导体器件分立器件 第8部分：场效应晶体管 第Ⅳ章
检测项目：栅-源阈值电压<I>V</I><Sub>GSth</Sub>
检测对象：MOS场效应管
GB/T15651.5-2024
半导体器件第5-5部分光电子器件光电耦合器
检测项目：电流传输比hFctr
检测对象：光电耦合器