数据更新时间
2026-05-12
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能力摘要
来自该机构公开能力范围。
半导体集成电路 电压比较器测试方法 SJ/T 10805-2018 5.1
混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-1997 5.1
集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006 5.2.1
半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992 2.1
半导体分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 第Ⅳ章 15
半导体集成电路 模拟开关测试方法 GB/T14028-2018 5.1
半导体集成电路 电压调整器测试方法 GB/T4377-2018 4.1
半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 GB/T15651.3-2003 4.2
中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心已整理公开能力范围，可按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表标准包括 SJ/T 10805-2018、SJ20646-1997、SJ20961-2006、GB/T14030-1992、GB/T 4586-1994、GB/T14028-2018 等。完整匹配明细建议按标准号、产品名称或检测项目在本页继续查询确认。
代表检测对象包括 半导体集成电路电压比较器、混合集成电路DC/DC变换器、电工电子产品、集成电路A/D转换器、时基电路、半导体集成电路模拟开关、半导体集成电路电压调整器、场效应管IGBT 等，具体是否覆盖您的产品型号、样品状态和报告用途，需结合实验室能力范围确认。
建议以具体产品、检测项目、标准号和报告用途发起查询或提交需求。具备相应资质范围的承接实验室可按委托要求出具检测报告；报告可使用范围需以承接实验室资质、检测标准、委托要求及接收方审核为准。
建议换成标准号、检测对象或检测项目关键词再试，或切换到其他分公司查看。