国标GB/T15651.3-2003现行有效

GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法》 5.6 标准解读与检测实验室查询

我来检已收录 21 家具备「GB/T15651.3-2003」（半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 》 5.6）检测能力的 CNAS/CMA 实验室，可在线查询机构与能力范围。

常见检测项目包括 集电极-发射极饱和电压、输入二极管正向电压、输入二极管反向电流、电流传输比、集电极-发射极暗电流、集电极-基极暗电流、开通时间、关断时间、发光强度Iv（平均LED强度）、峰值发射波长λP 等，具体以各实验室能力范围为准。

常见适用产品 / 检测对象包括 光电器件、光电子器件、发光二极管、光耦合器、光电耦合器、半导体光电耦合器、（十七）半导体分立器件和集成电路光电子器件、光电耦合器（晶体管输出）、光耦 等。

GB/T15651.3-2003 即《半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件测试方法 》 5.6》，属于国标，当前状态：现行有效。标准全文以官方发布为准。

已收录 21 家具备「GB/T15651.3-2003」检测能力的 CNAS/CMA 实验室，覆盖 24 个检测项目、9 类适用产品。做检测，上我来检。

标准核心信息

标准编号

GB/T15651.3-2003

标准类型

国标

标准状态

现行有效

发布日期

2003-11-24

实施日期

2004-08-01

标准名称

半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法》 5.6

我来检已收录 21 家具备「GB/T15651.3-2003」（半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法》 5.6）检测能力的 CNAS/CMA 实验室，可在线查询机构与能力范围。

常见检测项目包括集电极-发射极饱和电压、输入二极管正向电压、输入二极管反向电流、电流传输比、集电极-发射极暗电流、集电极-基极暗电流、开通时间、关断时间、发光强度Iv（平均LED强度）、峰值发射波长λP 等，具体以各实验室能力范围为准。

常见适用产品 / 检测对象包括光电器件、光电子器件、发光二极管、光耦合器、光电耦合器、半导体光电耦合器、（十七）半导体分立器件和集成电路光电子器件、光电耦合器（晶体管输出）、光耦等。

GB/T15651.3-2003 即《半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法》 5.6》，属于国标，当前状态：现行有效。标准全文以官方发布为准。