当前查看：中国航空综合技术研究所
其他地区
联系电话：暂无
数据更新时间
2026-05-12
按“GB/T 36477-2018”筛选，展示 7 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 1 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路快闪存储器测试方法
检测项目：输入高电平电压、输入低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流、存储单元0变1功能、存储单元1变0功能、特殊数据图形功能
检测对象：数字集成电路