数据更新时间
2026-05-12
按“存储器”筛选，展示 25 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
半导体集成电路快闪存储器测试方法
检测项目：输出高电平、低电平电压、输入高电平、低电平电压、输入高电平、低电平电流、输出高电平、低电平电流、输出高阻状态电流、电源电流和漏电流、建立和保持时间、传输时间 等 14 项，点击展开全部
检测对象：快闪存储器
半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998 第Ⅳ篇/第3节/
检测项目：棋盘格图形、对角线图形、全0（全1）图形、单1（单0）图形、输出高电平电压、输出低电平电压、输入高电平电流、输入低电平电流 等 11 项，点击展开全部
检测对象：半导体集成电路存储器电路