当前查看：中国科学院上海光学精密机械研究所检测中心
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数据更新时间
2026-05-12
按“面形”筛选，展示 2 条相关能力（含该机构旗下分支机构）。
按标准归类为 2 个标准，每个标准下方直接显示可检测项目，点击可展开全部。
大口径平面光学元件面形测量方法 斐索干涉法
检测项目：波面误差
检测对象：光学材料及元件
光学零件的面形偏差
检测项目：面形偏差