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医药工业悬浮粒子测试方法 4/5/6/7/附录B

GJB 548B-2005

微电路试验方法和程序 方法

GJB 128A-1997

半导体分立器件试验方法 方法

GJB 360B-2009

电子及电气元件试验方法 方法

GJB 548C-2021

微电子器件试验方法和程序 方法

GJB 128B-2021

半导体分立器件试验方法 方法

GJB 65B-1999

有可靠性指标的电磁继电器总规范 4.8.23、附录B

GJB 65C-2021

有失效率等级的电磁继电器通用规范 4.8.22、附录B

GJB 4027A-2006

军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0106-2.3、0701-2.3、0702-2.4、0901-2.4、1003-2.5、1101-2.4、1102-2.4、1201-2.4、1202-2.4、1301-

GJB 4027B-2021

军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目0106-2.4、0701-2.4、0702-2.5、0901-2.5、0902-2.5、1003-2.5、1101-2.5、1102-2.5、1201-2.5、1202-2.5、1301-